晶片測試分類機
如果您對該產品感興趣的話,可以
產品名稱: 晶片測試分類機
產品型號: 3112
產品展商: Chroma
產品文檔: 無相關文檔
簡單介紹
高信賴度之PnP自動化測試分類機
x4 多盤置入自動測試分類
全方位(X/Y/Z/θ)可調式探針座模塊
測式座產品堆棧檢測
x12輸出分類盤可程序設定輸出類別
全程實時良率顯示與控制
全程探針接觸狀態(tài)顯示(選配)
晶片測試分類機
的詳細介紹
產品特色
-
高信賴度之PnP自動化測試分類機
-
x4 多盤置入自動測試分類
-
全方位(X/Y/Z/θ)可調式探針座模塊
-
測式座產品堆棧檢測
-
x12輸出分類盤可程序設定輸出類別
-
全程實時良率顯示與控制
-
全程探針接觸狀態(tài)顯示(選配)
Chroma 3112具備單頭與多頭之適合量產的PnP 自動化芯片測試分類機，可藉由治具變更處理各種不同尺寸規(guī)格之芯片測試與分類。此設備透 過PnP方式將芯片自芯片盤加載至測試站中，**的測試后依據(jù)測試結果穩(wěn)定的放置于分類盤中。其高效率的模塊化設計與精準的機構傳動 結構可確保在高速運作下減少Jam Rate的量產要求，多重檢查功能裝置可降低待測物發(fā)生異常的損壞。
芯片測試運用此自動化測試分類技術不僅能提升 生產效率、減少人力需求，同時也增加了測試穩(wěn)定度及測試良率。此外，其簡潔的機臺設計更可節(jié)省機臺于測試廠之占地面積，幫助客戶大幅降低生產成本。
