薄膜厚度自動光學量測系統
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產品名稱: 薄膜厚度自動光學量測系統
產品型號: 7505-K007
產品展商: Chroma
產品文檔: 無相關文檔
簡單介紹
適用于Roll To Roll印刷制程、Thin film等薄膜制程厚度檢測
使用3D光學探頭，進行非破壞性、快速表面厚度量測與分析
使用陶瓷吸附平臺，可將待測物吸附于平臺上使表面平整，亦不對待測物造成皺褶或破損
3D厚度量測范圍大
可量測透明材質
高靜態量測重復精度
高動態量測重復精度
具備腳本功能可進行自動量測
薄膜厚度自動光學量測系統
的詳細介紹
產品特色
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適用于Roll To Roll印刷制程、Thin film等薄膜制程厚度檢測
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使用3D光學探頭，進行非破壞性、快速表面厚度量測與分析
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使用陶瓷吸附平臺，可將待測物吸附于平臺上使表面平整，亦不對待測物造成皺褶或破損
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3D厚度量測范圍大
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可量測透明材質
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高靜態量測重復精度
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高動態量測重復精度
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具備腳本功能可進行自動量測
Chroma 7505-K007薄膜厚度自動光學檢測系統主要整合3D光學探頭，進行非破壞性、快速表面厚度量測與分析，適用于Roll To Roll印刷制程、Thin film等薄膜制程厚度檢測。同時配備陶瓷吸附平臺，可將待測物吸附于平臺上使表面平整，亦不對待測物造成皺褶或破損，3D厚度量測范圍大、設備靜態重復精度高與設備動態重復精度高，具備Recipe功能可進行自動量測，此外系統亦提供檢測數據數據的存盤功能，供后續操作人員處理分析使用。
